產(chǎn)品中心
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瞬態(tài)吸收系列
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時間分辨熒光光譜的數(shù)據(jù)分析方法
高速線陣CMOS探測技術(shù)的演變與未來趨勢
電泵浦瞬態(tài)吸收的成因與控制措施
如何根據(jù)需求選擇熒光光譜儀?
光電流成像技術(shù)的原理與應(yīng)用
瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)的原理介紹
超快陰影泵浦探測,飛秒陰影泵浦探測,超快泵浦探測陰影成像系統(tǒng)UPSI100主要利用調(diào)節(jié)pump和probe光之間的光程差來進行測試。首先激光打在樣品上,樣品表面會產(chǎn)生一定程度的損毀,由于本過程很快(ps量級)因此單使用相機連續(xù)采集不能夠完整的觀察到整個損毀的過程。
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